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La microscopie à force atomique (AFM) est une technique avancée d’imagerie et de mesure qui permet d’étudier les surfaces à l’échelle nanométrique et atomique. Contrairement aux microscopes optiques traditionnels, l’AFM utilise une pointe extrêmement fine montée sur un cantilever pour scanner la surface d’un échantillon, offrant ainsi des images tridimensionnelles d’une précision exceptionnelle.

L’AFM est largement utilisée dans divers domaines scientifiques et industriels, notamment la nanotechnologie, la biologie, la science des matériaux et l’électronique. Elle permet de mesurer non seulement la topographie des surfaces, mais aussi des propriétés mécaniques, électriques et magnétiques à l’échelle nanométrique.